產品簡介 Introduction
能芯電子開發(fā)的柜式動態(tài)可靠性測試系統(tǒng)（PSL-DHTGB/DHTRB/DH3TRBPRO）為高性能動態(tài)可靠性測試系統(tǒng)，支持不同封裝形式的單管與模塊的DGS/DRB/DH3TRB實驗。
柜式動態(tài)可靠性測試系統(tǒng)（PSL-DHTGB/DHTRB/DH3TRB-PRO）的測試容量更大，可并聯(lián)支持最多240顆器件進行測試；通過搭配能芯電子自研的示波器采集系統(tǒng)，可以實現(xiàn)全通道全工位的波形監(jiān)控能力；該系統(tǒng)的驅動與參數(shù)采集硬件為可插拔設計，參數(shù)設置與配件維修極其簡單；該系統(tǒng)配備有水冷散熱系統(tǒng)，支持器件高頻測試，穩(wěn)定測試溫度。
柜式動態(tài)可靠性測試系統(tǒng)（PSL-DHTGB/DHTRB/DH3TRB-PRO）具有高性價比、高精度、高頻、高速、易維護等優(yōu)點，幫助客戶實現(xiàn)批量化動態(tài)可靠性測試的能力。
PSL-DHTGB-PRO
產品規(guī)格 Product Specifications
| 測試項目 | 詳情 |
|---|---|
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測試項目 |
DHTGB（DGS）動態(tài)柵極偏置可靠性測試 |
| Vgs | 典型測試范圍：-10~22V |
| 頻率范圍 |
單管TO247-3L/4L: 0~500kHz
模塊 Easy1B/2B: 0~200kHz
模塊 HPD: 0~100kHz
（根據(jù)器件與安裝條件取最優(yōu)值調節(jié)）
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| 占空比 | 10~90%（根據(jù)器件與安裝條件取最優(yōu)值調節(jié)） |
| dV/dt | ≥0.3V/ns（根據(jù)器件與安裝條件取最優(yōu)值調節(jié)） |
| 過沖 | 0（根據(jù)器件與安裝條件取最優(yōu)值調節(jié)） |
| 監(jiān)控參數(shù) |
Igss，Vth，
波形（選配每工位監(jiān)控或每層監(jiān)控），
外殼溫度（選配每工位監(jiān)控），
Rdson（選配每工位監(jiān)控，動態(tài)鉗位測量）
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| 加熱/冷卻方式 |
風冷鰭片，
水冷板+水冷機（選配），
加熱板（選配）
其中 風冷鰭片的降溫效果取決于設備所處實驗環(huán)境，
水冷板的降溫效果取決于外接水冷機的冷卻水溫度，
加熱板最高溫度至200℃。
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| 最大容量 |
單體測試柜
單管: 16顆/層，疊加5層，共80顆；
半橋模塊（以Easy1B為例）: 8個/層，疊加5層，共40個；
三相模塊（以HPD為例）: 2個/層，疊加5層，共10個；
單個主機柜最多可連接3個測試柜。
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基于AQG-324標準
PSL-DHTRB-PRO
產品規(guī)格 Product Specifications
| 測試項目 | 詳情 |
|---|---|
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測試項目 |
DHTRB（DRB）動態(tài)反偏可靠性測試
兼容主動式與被動式
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| Vds | 典型測試范圍：520~1200V |
| 頻率范圍 |
單管TO247-3L/4L: 0~200kHz
模塊 Easy1B/2B: 0~100kHz
模塊 HPD: 0~50kHz
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| 占空比 | 10~50%（根據(jù)器件與安裝條件取最優(yōu)值調節(jié)） |
| dV/dt | ≥50V/ns（根據(jù)器件與安裝條件取最優(yōu)值調節(jié)） |
| 過沖 | 根據(jù)器件與安裝條件取最優(yōu)值調節(jié) |
| 監(jiān)控參數(shù) |
Idss，Vth，
波形（選配每工位監(jiān)控或每層監(jiān)控），
外殼溫度（選配每工位監(jiān)控），
Rdson（選配每工位監(jiān)控，動態(tài)鉗位測量）
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| 加熱/冷卻方式 |
風冷鰭片，
水冷板+水冷機（選配），
加熱板（選配）
其中 風冷鰭片的降溫效果取決于設備所處實驗環(huán)境，
水冷板的降溫效果取決于外接水冷機的冷卻水溫度，
加熱板最高溫度至200℃。
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| 最大容量 |
單體測試柜
單管: 16顆/層，疊加5層，共80顆；
半橋模塊（以Easy1B為例）: 8個/層，疊加5層，共40個；
三相模塊（以HPD為例）: 2個/層，疊加5層，共10個；
單個主機柜最多可連接3個測試柜。
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基于AQG-324標準
PSL-DH3TRB-PRO
產品規(guī)格 Product Specifications
| 測試項目 | 詳情 |
|---|---|
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測試項目 |
DH3TRB動態(tài)高溫高濕反偏可靠性測試
兼容主動式與被動式
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| Vds | 典型測試范圍：300~960V |
| 頻率范圍 | 15~25kHz（根據(jù)器件與安裝條件取最優(yōu)值調節(jié)） |
| 占空比 | 10~50%（根據(jù)器件與安裝條件取最優(yōu)值調節(jié)） |
| dV/dt | ≥30V/ns（根據(jù)器件與安裝條件取最優(yōu)值調節(jié)） |
| 過沖 | 根據(jù)器件與安裝條件取最優(yōu)值調節(jié) |
| 監(jiān)控參數(shù) |
Idss，Vth，
波形（選配每工位監(jiān)控或每層監(jiān)控），
外殼溫度（選配每工位監(jiān)控），
Rdson（選配每工位監(jiān)控，動態(tài)鉗位測量）
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| 加熱加濕方式 | 高溫高濕箱，支持85℃/85%RH的高溫高濕環(huán)境 |
| 最大容量 |
單體測試柜（高溫高濕箱）
單管: 16顆/層，疊加5層，共80顆；
半橋模塊（以Easy1B為例）: 8個/層，疊加5層，共40個；
三相模塊（以HPD為例）: 2個/層，疊加5層，共10個；
單個主機柜最多可連接3個測試柜。
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基于AQG-324標準
