反射測量
反射測量可以用于測量元件的反射率，測量物體的反射顏色和化學樣品中的成分信息。
光譜儀：
可以使用高性價比的USB4000光譜儀，覆蓋紫外到可見200-850nm的范圍，或者可見到近紅外350-1000nm的范圍；或覆蓋200-1100nm的HR4000光譜儀。如果您考慮的是紅外波段，可以使用NIRQuest近紅外光譜儀，或者紅外光譜儀。
采樣附件：
測量反射率的時候，必須考慮樣品的反射是鏡面反射還是漫反射，或者是反射率隨入射光的角度改變的樣品。
鏡面反射和漫反射
對于絕大多數(shù)的測量，都可以使用反射探頭的方式來實現(xiàn)。使用QR400-7-UV-NIR反射探頭，一端接光譜儀，一端接光源，探頭的公共端可以通過RPH-1這個探頭支架固定，方便的在樣品表面測量，反射探頭可以在單一方向進行照射和接受，如果是鏡面反射，就使用支架的90度位置，如果是漫反射，就可以使用支架的45度位置。
反射率隨角度變化的樣品
使用積分球ISP-Ref或者ISP-R積分球來測量，由于積分球的特性，可以將樣品在各個方向上的反射光收集到積分球中，勻化以后，通過光纖進入光譜儀。
光源：
可以使用覆蓋可見和近紅外范圍的鹵鎢燈HL2000，或者紫外到近紅外的DH-2000-BAL光源，如果您需要更便攜的光源，也可以使用DE-mini光源。
反射標準：
如果是漫反射，可以使用ws-1；如果是鏡面反射，可以使用STAN-SSH(高反射率)或者STAN-SSL(高反射率)，更有STAN-SSH-NIST，具有NIST標準的反射率文件，可以直接調(diào)入軟件測量樣品的反射率。
