Sphere3000是一套波長顯微球面光學元件光譜分析儀，能快速準確地測量各類球面/非球面器件的相對/反射率。適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量。還可進行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測量。
技術參數
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型號 |
Sphere-3000（I型） |
Sphere-3000（III型） |
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檢測范圍 |
380~800nm |
360~1100nm |
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波長分辨率 |
1nm |
1nm |
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相對檢測誤差 |
﹤1% |
﹤0.5% |
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測定方法 |
與標準物比較測定 |
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被測物再現性 |
±0.1%以下(2σ) （380nm~410nm） ±0.05%以下(2σ) ， (410nm~800nm) |
±0.1%以下(2σ)，(380nm~410nm) ；±0.05%以下(2σ) ，(410nm~1100nm) |
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單次測量時間 |
﹤1s |
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精度 |
0.3nm |
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被測物N.A. |
0.12(使用10×對物鏡時) 、 0.24(使用20×對物鏡時) |
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被測物尺寸 |
直徑>1mm 厚度>1mm(使用10×對物鏡時) 厚度>0.5mm(使用20×對物鏡時) |
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被測物 測定范圍 |
約φ60μm(使用10×對物鏡時) ； 約φ30μm(使用20×對物鏡時) |
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設備重量 |
約15kg（光源內置） |
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設備尺寸 |
300(W)×550(D)×570(H)mm |
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使用環境 |
水平且無振動的場所 溫度：23±5℃； 濕度：60％以下、無結露； |
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操作系統 |
Windows XP, Windows Vista，Win7 |
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軟件 |
分光反射率、物體顏色、單層膜厚（有干涉條紋）和鍍膜（有干涉條紋）折射率測定 |
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尺寸 |
480*400*580mm |
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